品牌 大展 温度范围 室温~1200℃ 可扩展至~1450℃ 温度分辨率 0.01℃ 温度波动 ±0.1℃ 升温速率 0.1~80℃/min 温控方式 PID算法控制， 升温、恒温、降温 恒温时间 0～300min任意设定 程序控制 多段程序控制 天平测量范围 1mg～3g可扩展至10g DSC量程 0～±500mW

品牌 大展 温度范围 室温~1200℃ 可扩展至~1450℃ 温度分辨率 0.01℃ 温度波动 ±0.1℃ 升温速率 0.1~80℃/min 温控方式 PID算法控制， 升温、恒温、降温 恒温时间 0～300min任意设定 程序控制 多段程序控制 天平测量范围 1mg～3g可扩展至10g DSC量程 0～±500mW

品牌 大展 温度范围 室温~1200℃ 可扩展至~1450℃ 温度分辨率 0.01℃ 温度波动 ±0.1℃ 升温速率 0.1~80℃/min 温控方式 PID算法控制， 升温、恒温、降温 恒温时间 0～300min任意设定 程序控制 多段程序控制 天平测量范围 1mg～3g可扩展至10g

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品牌 大展 温度范围 室温~1200℃ 可扩展至~1450℃ 温度分辨率 0.01℃ 温度波动 ±0.1℃ 升温速率 0.1~80℃/min 温控方式 PID算法控制， 升温、恒温、降温 恒温时间 0～300min任意设定 程序控制 多段程序控制 天平测量范围 1mg～3g可扩展至10g DSC量程 0～±500mW

STA-200同步热分析仪将热重分析TG与差热分析DTA或差示扫描量热DSC结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到TG与DTA或DSC的信息。